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BDD—I型半導電層電阻試驗裝置

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BDD—I型半導電層電阻試驗裝置

一、適用范圍:

BDD型半導電層電阻測試成套裝置適用于GB/T11017.1-2002,附錄B、GB/T12706.2-2002和GB/T3048.3-2007《電線電纜電性能試驗方法第三部分 半導電橡塑材料體積電阻率試驗方法》標準。能對3.5萬伏、11萬伏、22萬伏等各種高壓交聯(lián)電纜的導體半導電屏蔽層和絕緣半導電屏蔽層的電阻進行測量,從而得出半導電屏蔽層電阻率。增加相應附件,能完成GB3048.3《電線電纜電性能試驗方法·第3部分·半導電橡塑材料體積電阻率試驗》標準中半導電材料的電阻率的測試。

二、BDD型半導電層測試裝置的組成和主要參數(shù):

為能準確的完成GB110717—2002附錄A和GB/T3048—2007標準中提出的試驗步驟。本成套裝置由三臺設施組成。

2.1 BDD型半導電層試樣制備機:為取得半圓型交聯(lián)電纜試樣而設計,根據(jù)試樣外徑大小分為二個型號



試樣線芯直徑mm

試樣外徑范圍mm

BDD—I型電纜試樣制備機

Ф6—Ф30

Ф15—Ф55

BDD—II型電纜試樣制備機

Ф8—Ф40

Ф18—Ф130


2.2 BDD型半導電層電阻測試儀,為測試導體屏蔽層和絕緣屏蔽層電阻而設計:

·測試功率:   不超過100MW

·電源對地絕緣電阻:    不小于1012Ω

·電壓表輸入端對地絕緣電阻:   不小于1012Ω

·最大測量電阻:    2×1MΩ

2.3 BDD型半導電層測試恒溫烘箱,為試樣在90℃恒溫條件下測試電阻而設計:

·有效容積:   450×450×450mm

·一次最多試樣個數(shù):   4個

·恒溫溫度:  90±1℃

2.4 用戶如果須完成GB3048.3即半導電橡塑材料體積電阻率試驗,須另行訂購半導電橡塑材料體積電阻率試驗儀,結(jié)合BDD型半導電層電阻測試儀,即可完成該項目的試驗。


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